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PosiTectorUTG超聲波測厚儀
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HR-150A型洛氏硬度計
HR-150DT型洛氏硬度計
HRMS-45型數顯表面洛氏硬度計
維氏硬度試驗機系列
電子分析天平
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TG328A(S)雙盤機械天平
SYD-261閉口閃點試驗器
SYD-267開口閃點試驗器
SYD-3536克利夫開口閃點試驗器
WNE-1A石油產品恩氏粘度計
FD-H豪華型夾式放大鏡
FD-B夾臺式放大鏡
FD-L落地式放大鏡
WYT-1手持糖量折光儀
WYT－4（TZ-62）手持糖量折光儀
WYT-15手持糖量折光儀
WYT-32手持糖量折光儀
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DV-II+數顯粘度計
NDJ-4旋轉式粘度計
NDJ-9S數字式粘度計
NDJ-79/NDJ-7旋轉粘度計
SNB-1數字式粘度計
TT-100ViscometerSeries在線粘度計系列
L2003系列正置金相顯微鏡
XSP-2C雙目生物顯微鏡
XSP-6C雙目生物顯微鏡
XSP-8C三目生物顯微鏡
2400WE連續變倍顯微鏡與萬能支架
3400WE連續變倍顯微鏡與萬能支架
A4－10X測量顯微鏡
BOD分析系統
COD反應器及分析系統
DR2500分光光度計
HSR500手持式折射儀
NAR1T阿貝折射儀
NAR2T阿貝折射儀
NAR3T型阿貝折射儀
NAR4T阿貝折射儀
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賽多利斯BS系列天平
賽多利斯CP系列天平
ME-MC-SE系列微量天平
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AX分析天平
UMX-MX超微量微量天平
AE分析天平
POLAX-2L數字式半自動旋光儀
HI98127-HI98128防水測試筆
600-600B型涂層測厚儀
DL-101C/102C電子數字水準儀
經緯儀/激光經緯儀DT200/200L
GTS330全站儀
徠卡NA700系列水準儀
PR32數字式折射計
PR101數字式折射計
雙頻清洗系列
SKH高頻清洗系列
新型自動安平水準儀系列
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奧林巴斯BX51T-DP50系列顯微鏡
ECLiPSEL200與NwL-850硅輸送機
ECLiPSEl200與NwL-860TMBINX硅片輸送機
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E600FN腦片組織切片膜片鉗
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TR200手持式粗糙度儀
JB-3C表面粗糙度測試儀

產品簡介

6JA干涉顯微鏡

6JA干涉顯微鏡

6JA干涉顯微鏡

↑干涉顯微鏡6JA 本儀器是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。儀器配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面。同時還能將儀器安置在工件上，對大型工件表面進行測量。儀器測量表面不平深度范圍為1～0.03微米，用測微目鏡和照相方法來評定△10～△14光潔度的表面。本儀器適用于廠礦企業計量室，精密加工車間，也適用于高等院校，科學研究等單位。

※主要技術規格

不平深度測量范圍	0.03---1um（10----14）
放大倍數	500×（目鏡）；168×(照相）
視場范圍	25mm（目視）；0.15×0.21mm（照相）
工作距離	0.5mm
測微器分劃值	0.01mm

如果有具體要求,歡迎致電查詢：65730171、35120818、65729118傳真：65732715

版權所有、上海精密儀器儀表有限公司
All Rights Reserved.(Shanghai Precision Instrument Co., Ltd.)

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