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3400WE連續變倍顯微鏡與萬能支架
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DR2500分光光度計
HSR500手持式折射儀
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NAR2T阿貝折射儀
NAR3T型阿貝折射儀
NAR4T阿貝折射儀
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賽多利斯CP系列天平
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AX分析天平
UMX-MX超微量微量天平
AE分析天平
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600-600B型涂層測厚儀
DL-101C/102C電子數字水準儀
經緯儀/激光經緯儀DT200/200L
GTS330全站儀
徠卡NA700系列水準儀
PR32數字式折射計
PR101數字式折射計
雙頻清洗系列
SKH高頻清洗系列
新型自動安平水準儀系列
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奧林巴斯BX51T-DP50系列顯微鏡
ECLiPSEL200與NwL-850硅輸送機
ECLiPSEl200與NwL-860TMBINX硅片輸送機
OPTiPHOT150與NwL-641M硅片輸送機
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SZ1145TRPT體視顯微鏡
SZ1145CHI體視顯微鏡
SZ4045系列顯微鏡
SZ-LSGA-3系列體視顯微鏡
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CKX31-CKX41系列倒置顯微鏡
CX41系列顯微鏡
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JB-4C精密粗糙度測試儀
TR200手持式粗糙度儀
JB-3C表面粗糙度測試儀

1. 適用於數字化學測量系統及視頻測量系統；廣泛用於投影儀、工具顯微鏡、CCD量測儀等二維測量儀器；
2. 采集點可使用手動或光學尋邊器自動輸入；
3. 可通過系統擺正功能自動擺正工件以減少調整時間；
4. 圖元數據顯示內容豐富，提示資訊全面；

• 點、線、圓各元素之簡易或多點測量
• 點、線、圓、距離及角度各種元素之預署設定
• 點、線、圓、距離及角度各種元素均可由組合方式得之
• 各種元素可存入記憶或由記庫呼（最多可鍵100組元素）
• 具有座標旋轉，座標平移
• 具有用戶自設程式功能（共10組；每組最多可至高無1000步）
• 極座標/直角座標轉換功能
• 光學尺之線性補正；區段線性之補正功能
• RS232輸出功能
• PC印表機之界面輸出功能
• 腳踏開關，光學尋邊器之界面功能（選項）
• 存儲/呼出元素功能（100組記憶設定）
• 停電記憶功能